国标标准：GB/T 6624《硅抛光片表面质量目测检验方法》
 
| 更新时间 2025-01-10 20:00:00 价格 请来电询价 测试周期 5-7天 寄样地址 深圳宝安 价格费用 电话详谈 联系电话 17324413130 联系手机 17324413130 联系人 罗卓文 立即询价 |
详细介绍
| 标准号 Standard No. | 中文标准名称 Standard Title in Chinese | 英文标准名称 Standard Title in English | 状态 State | 备注 Remark |
| GB/T 6624-1995 | 硅抛光片表面质量目测检验方法 | Standard method for measuring the surfacequality of polished silicon slices by visual inspection | 废止 | 1995-12-01实施,代替GB 6624-1986,2010-06-01废止,被GB/T 6624-2009代替 |
| GB/T 6624-2009 | 硅抛光片表面质量目测检验方法 | Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection | 现行 | 2010-06-01实施,代替GB/T 6624-1995 |
本标准规定了在一定光照条件下，用目测检验单晶抛光片（以下简称抛光片）表面质量的方法。本标准适用于硅抛光片表面质量检验。外延片表面质量目测检验也可参考本方法进行。
标准全文查看/下载
http://c.gb688.cn/bzgk/gb/showGb?type=online&hcno=F0364B45636359411C53DCD5F4084EE6
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