国标标准：GB/T 6495.4《晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法》
 
| 更新时间 2024-09-26 20:00:00 价格 请来电询价 测试周期 5-7天 寄样地址 深圳宝安 价格费用 电话详谈 联系电话 17324413130 联系手机 17324413130 联系人 罗卓文 立即询价 |
详细介绍
| 标准号 Standard No. | 中文标准名称 Standard Title in Chinese | 英文标准名称 Standard Title in English | 状态 State | 备注 Remark |
| GB/T 6495.4-1996 | 晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 | Procedures for temperature and irradiance corrections to measured I-V characteristics of crystalline silicon photovoltaic devices | 现行 | 1997-01-01实施,代替GB 6493-1986,GB 6495-1986 |
本标准规定了作温度和辐照度修正应遵循的方法，仅适用于修正晶体硅光伏器件的实测I—V特性。本标准规定了晶体硅光伏器件的I—V实测特性的温度和辐照度修正方法，包括测定温度系数、内部串联电阻和曲线修正系数。这些方法在测试所用辐照度的±30%范围内都能适用。
Test Requirement 测试要求：
| 标准 / Standard | 项目/参数 / Test Items | 检测标准（方法） / Test Method tecert.com |
| 晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 GB/T 6495.4-1996 | 温度系数的测定 | 晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 GB/T 6495.4-1996 3 |
| 内部串联电阻的测定 | 晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 GB/T 6495.4-1996 4 | |
| 曲线修正系数的测定 | 晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 GB/T 6495.4-1996 5 |
Sample Size 样品数量 / 送样规格: on request
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 测试周期: 常规服务 Regular service 7-9 working days
Report Summary 报告摘要:
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联系方式
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- 检测工程师：罗卓文
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