国标标准：GB/T 5594.2《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法》
 
| 更新时间 2025-01-26 20:00:00 价格 请来电询价 测试周期 5-7天 寄样地址 深圳宝安 价格费用 电话详谈 联系电话 17324413130 联系手机 17324413130 联系人 罗卓文 立即询价 |
详细介绍
| 标准号 Standard No. | 中文标准名称 Standard Title in Chinese | 英文标准名称 Standard Title in English | 状态 State | 备注 Remark |
| GB/T 5594.2-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法 | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio | 现行 | 1986-12-01实施 |
本标准适用于室温下电子器件结构陶瓷材料的杨氏弹切变模量和泊松比的测量。
标准全文查看/下载
http://c.gb688.cn/bzgk/gb/showGb?type=online&hcno=A8B085DFCB4CA590FC988B431346EF51
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