IEC 60127-3《微型熔断器 - 第 3 部分：超小型熔断体》测试要求

IEC 60127-3适用于印刷电路的超小型熔断体，用于保护电器、电子设备及其零部件，通常在室内使用。 它不适用于在特殊条件下使用的器具的超小型熔断体，例如在腐蚀性或爆炸性环境中。 除 IEC 60127-1 的要求外，本标准也适用。 本标准的目的是定义除 IEC 60127-1 要求外适用的超小型熔断体的特殊和附加测试方法。 IEC 60127-3 第三版取消并取代了 1988 年发布的第一版及其修正案 1 (1991) 和修正案 2 (2002)。 相对于先前版本，此版本包括以下重大技术更改：

  ——在标准表 3 和 4 中添加矩形熔断体作为替代；

  - 在标准表 2、3 和 4 中添加一个小盒式熔断体作为替代方案；

  ——在标准表2、3和4中增加了高达10A的额定电流；

  ——增加第6.5款；

  ——增加第9.7款；

  ——表 1、2、3、4 中用于端接试验的额外样品（E1 至 E6）将随机选取，不按电压降排序。 关键词：印刷电路用超小型熔断体，电气保护 电器、电子设备和零部件。 本出版物应与 IEC 60127-1 一起阅读。

Test Requirement 测试要求：

标记
标准额定值
尺寸和结构
电压降（mV）
分断能力
分断能力试验后,端帽之间在500Vd.c.电压下测试，绝缘电阻
耐久性试验A(标准规格单3或4)
耐久性试验B（标准规格单1或2）
熔断体温度（K）：
时间 电流特性：标准规格单1（快速动作高分断能力）：
时间 电流特性：标准规格单2（快速动作低分断能力）：
时间 电流特性：标准规格单3（延时，低分断能力）：
时间 电流特性：标准规格单4（快速动作低分断能力）：
时间 电流特性：标准规格单5（延时，高分断能力）：

Sample Size 样品数量 / 送样规格: 24pcs
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 测试周期: 常规服务 Regular service 30 working days

Report Summary 报告摘要: