可靠性检测：针对电子电气产品定量加速寿命试验

平时实际试验过程中，是否发现要求的可靠性MTBF指标要求比较高，比如MTBF≥500000小时，不论按照序贯或定时截尾方案，实际试验时间都是特别长的，导致试验成本昂贵。为缩短试验周期，减少试验费用，人们迫切需要在较短时间内获得产品的可靠性/寿命信息，因此，产品的加速试验方法就此应运而生。

加速试验的目的1、采用加大应力的方法促使产品在短期内达到相同的失效效果，以预测其在正常工作条件或储存条件下的可靠性/寿命；2、通过加大应力，快速找出产品潜在的设计薄弱环节，提供产品的可靠性/寿命信息，实现产品可靠性提高/寿命延长。

加速试验的分类基于累积损伤模型，试验中获取的相关信息以及产品的使用状态假设,加速试验方法被分成三种类型：A类(定性加速试验)：用于发现故障模式和(或)故障现象；
B类(定量加速试验)：用于预计产品正常使用时的失效分布；
C类(定量时间和事件压缩试验)：用于预计产品正常使用时的失效分布。常用的定量加速模型：
温度加速Arrhenius模型、温湿度加速Peck模型、温度循环加速W-E模型、振动/电应力加速逆幂模型、温湿度-振动综合应力加速模型。

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