4.1 本测试方法适用于测量正入射、远场、平面波条件下（E和H与材料表面切向）平面材料的SE。

4.2 测量的 SE 值的不确定度取决于材料、整个传输线路径的不匹配、测量系统的动态范围以及辅助设备的精度。附录 X1 中给出了不确定度分析，以说明经验丰富的操作员使用良好设备实现的不确定度的概率。偏离本测试方法中的程序将增加这种不确定性。

4.3 可以使用远场 SE 的测量值来计算 E 或 H 源的 SE 的近似近场值。可以从附录 X2 中的源代码生成适合在个人计算机上使用的程序。

4.4 本测试方法测量由反射和吸收引起的净 SE。反射和吸收功率的测量是通过在支架的输入端添加一个经过校准的双向耦合器来完成的。

1. 范围

1.1 本测试方法提供了一种测量平面材料对平面远场电磁波的电磁 (EM) 屏蔽效能 (SE) 的程序。根据测量数据，可以计算出电薄样品的磁 (H) 源的近场 SE 值。2,3 电 (E) 场 SE 值也可以根据相同的远场数据计算出来，但其有效性和适用性尚未确定。

1.2 测量方法在 30 MHz 至 1.5 GHz 的频率范围内有效。这些限制并不精确，但基于由于电容耦合在较低频率下减小而导致的位移电流减小，以及由于本测试方法中描述的样品支架尺寸在较高频率下过模（激发除横向电磁模式 (TEM) 以外的模式）。在此范围内选择任意数量的离散频率。对于具有与频率无关的电导率、介电常数和磁导率等电性能的电薄各向同性材料，可能只需要在少数频率下进行测量，因为远场 SE 值与频率无关。如果材料不是电薄的，或者任何参数随频率而变化，则在感兴趣的频带内以几个频率进行测量。

1.3 本测试方法不适用于电缆或连接器。

1.4 单位——以 SI 单位表示的数值应视为标准。本标准不包含其他计量单位。

1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前制定适当的安全、健康和环境实践并确定监管限制的适用性。

1.6 本国际标准是根据世界贸易组织技术性贸易壁垒（TBT）委员会《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确定的国际公认的标准化原则制定的。

测试要求 测试要求：

测量平面材料的电磁辐射效应的试验方法，测试频率范围为30MHz~1.5GHz

Sample Size 样品数量 / 送样规格: 20cm x 20cm x 2pcs
Lead Time / TAT (Turn around Time) 测试周期:固定服务 常规服务 10 个工作日

报告摘要 报告摘要: