本标准规定了如何利用失效率数据进行电子设备中的电子元器件可靠性预计。基准条件是在大量应用中所观测到的元器件应力典型值。基准条件之所以有用是因为它可通过采用考虑真实工作条件的应力模型计算出任何条件下的失效率。在早期设计阶段基准条件下的失效率允许用于实际的可靠性预计。本标准描述的应力模型是通用模型可在需要时作为基准条件下失效率数据转换为真实工作条件下失效率的基础这简化了预计方法失效率数据的转换只允许在元器件规定的功能使用限制范围内进行。本标准还就如何构建元器件失效率数据库以提供可用于本标准应力模型的失效率提供了指南。指定失效率数据的基准条件是为了使不同来源的数据可以在同一基准上进行比较。如果失效率数据依照本标准给出则不需要附加特定条件的信息。本标准不提供元器件的基本失效率而是提供模型把通过其他方式获得的失效率由一种工作条件转换到另一工作条件下的失效率。本标准描述的预计方法都假定元器件是在使用寿命期内使用的。本标准方法有通用性但明确适用于第6章和附录E.2中给出的元器件类型。