深圳市实测通技术服务有限公司
主营产品： ROHS认证、CE认证、FCC认证、CB认证、FDA认证、UL认证、CCC认证、GS认证、MIC认证、EK认证、PSE认证、E-MARK 认证等国际安全测试认证
商铺首页 关于我们 产品中心 新闻列表 联系我们
国标标准：GB/T 6624《硅抛光片表面质量目测检验方法》
标准号 Standard No.中文标准名称 Standard Title in Chinese英文标准名称 Standard Title in English状态 State备注 Remark
GB/T 6624-1995硅抛光片表面质量目测检验方法Standard method for measuring the surfacequality of polished silicon slices by visual inspection废止1995-12-01实施,代替GB 6624-1986,2010-06-01废止,被GB/T 6624-2009代替
GB/T 6624-2009硅抛光片表面质量目测检验方法Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection现行2010-06-01实施,代替GB/T 6624-1995

本标准规定了在一定光照条件下，用目测检验单晶抛光片（以下简称抛光片）表面质量的方法。本标准适用于硅抛光片表面质量检验。外延片表面质量目测检验也可参考本方法进行。

标准全文查看/下载

 http://c.gb688.cn/bzgk/gb/showGb?type=online&hcno=F0364B45636359411C53DCD5F4084EE6

展开全文
相关产品
拨打电话 发送询价
©2007-2016 11467.com