国标标准：GB/T 6495.4《晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法》视频

国标标准：GB/T 6495.4《晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法》

观看国标标准：GB/T 6495.4《晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法》视频：

标准号 Standard No.	中文标准名称 Standard Title in Chinese	英文标准名称 Standard Title in English	状态 State	备注 Remark
GB/T 6495.4-1996	晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法	Procedures for temperature and irradiance corrections to measured I-V characteristics of crystalline silicon photovoltaic devices	现行	1997-01-01实施,代替GB 6493-1986,GB 6495-1986

本标准规定了作温度和辐照度修正应遵循的方法，仅适用于修正晶体硅光伏器件的实测I—V特性。本标准规定了晶体硅光伏器件的I—V实测特性的温度和辐照度修正方法，包括测定温度系数、内部串联电阻和曲线修正系数。这些方法在测试所用辐照度的±30%范围内都能适用。

Test Requirement 测试要求：

标准 / Standard	项目/参数 / Test Items	检测标准（方法） / Test Method tecert.com
晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 GB/T 6495.4-1996	温度系数的测定	晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 GB/T 6495.4-1996 3
	内部串联电阻的测定	晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 GB/T 6495.4-1996 4
	曲线修正系数的测定	晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 GB/T 6495.4-1996 5

Sample Size 样品数量 / 送样规格: on request
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 测试周期: 常规服务 Regular service 7-9 working days

Report Summary 报告摘要:

展开全文

相关产品