国标标准：GB/T 5594.4《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》
| 标准号 Standard No. | 中文标准名称 Standard Title in Chinese | 英文标准名称 Standard Title in English | 状态 State | 备注 Remark |
| GB/T 5594.4-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value | 废止 | 1986-12-01实施 |
| GB/T 5594.4-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 4: Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value | 现行 | 国标委计划[2006]48号 |
GB/T 5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路等基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1MHz，温度从室温至500℃条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测定。
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http://c.gb688.cn/bzgk/gb/showGb?type=online&hcno=58AA90BB5D22238A5BA3F40CD8A441E0
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