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国标标准：GB/T 5594.2《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法》
标准号 Standard No.中文标准名称 Standard Title in Chinese英文标准名称 Standard Title in English状态 State备注 Remark
GB/T 5594.2-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio现行1986-12-01实施

本标准适用于室温下电子器件结构陶瓷材料的杨氏弹切变模量和泊松比的测量。

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 http://c.gb688.cn/bzgk/gb/showGb?type=online&hcno=A8B085DFCB4CA590FC988B431346EF51

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