国标标准:GB/T 35102《信息技术 射频识别 800/900MHz空中接口符合性测试方法》
国家标准编号 | 国家标准名称 | 实施日期 |
GB/T 35102-2017 | 信息技术 射频识别 800/900MHz空中接口符合性测试方法 | 2018/5/1 |
本标准依据GB/T 29768-2013规定了840MHz~845MHz和920MHz~925MHz射频识别空中接口的符合性测试方法。本标准适用于840MHz~845MHz和920MHz~925MHz射频识别设备(读写器和标签)的空中接口符合性测试。
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Test Requirement 测试要求:
标准 / Standard | 项目/参数 / Test Items | 检测标准(方法) / Test Method TECERT.com |
信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 | 读写器调制方式和工作频率 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.1 |
读写器邻信道功率泄露比 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.2 | |
读写器打开和关闭载波时的射频信号包络 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.3 | |
读写器到标签的射频信号包络 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.4 | |
读写器数据编码 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.5 | |
读写器前导码 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.6 | |
读写器解调和解码 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.7 | |
读写器链接时序T2 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.8 | |
读写器链接时序T3 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.9 | |
读写器链接时序T4 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.1 | |
读写器命令 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.11 | |
读写器多标签防碰撞机制 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 5.12 |
标准 / Standard | 项目/参数 / Test Items | 检测标准(方法) / Test Method TECERT.com |
信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 | 标签解调 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 6.1 |
标签工作频率 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 6.2 | |
标签基带编码和副载波调制 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 6.3 | |
标签前导码 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 6.4 | |
标签反向链路频率和频率允差 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 6.5 | |
标签链接时序T1 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 6.6 | |
标签链接时序T2 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 6.7 | |
标签状态转换 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 6.8 | |
标签命令测试 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 6.9 | |
标签防碰撞 | 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口符合性测试方法 GB/T 35102-2017 6.1 |
Sample Size 样品数量 / 送样规格: on request
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 测试周期: 常规服务 Regular service 7-9 working days
Report Summary 报告摘要:
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