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国标标准：GB/T 17473.3《微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定》测试要求


标准号 Standard No.中文标准名称 Standard Title in Chinese英文标准名称 Standard Title in English状态 State备注 Remark
GB/T 17473.3-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance废止1999-03-01实施
GB/T 17473.3-2008微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定Test methods of precious metals pastes used for microelectronics Determination of sheet resistance现行2008-09-01实施,代替GB/T 17473.3-1998


本标准规定了微电子技术用贵金属浆料中方阻的测定方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定。

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Test Item 测试名称: GB/T 17473.3 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

Test Requirement 测试要求：

 

Sample Size 样品数量 / 送样规格: 300ml or 300g
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 测试周期：常规服务 Regular service 12 working days

Report Summary 报告摘要:

 

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