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可靠性检测:针对电子电气产品定量加速寿命试验


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平时实际试验过程中,是否发现要求的可靠性MTBF指标要求比较高,比如MTBF≥500000小时,不论按照序贯或定时截尾方案,实际试验时间都是特别长的,导致试验成本昂贵。为缩短试验周期,减少试验费用,人们迫切需要在较短时间内获得产品的可靠性/寿命信息,因此,产品的加速试验方法就此应运而生。

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加速试验的目的1、采用加大应力的方法促使产品在短期内达到相同的失效效果,以预测其在正常工作条件或储存条件下的可靠性/寿命;2、通过加大应力,快速找出产品潜在的设计薄弱环节,提供产品的可靠性/寿命信息,实现产品可靠性提高/寿命延长。

加速试验的分类基于累积损伤模型,试验中获取的相关信息以及产品的使用状态假设,加速试验方法被分成三种类型:A类(定性加速试验):用于发现故障模式和(或)故障现象;
B类(定量加速试验):用于预计产品正常使用时的失效分布;
C类(定量时间和事件压缩试验):用于预计产品正常使用时的失效分布。常用的定量加速模型:
温度加速Arrhenius模型、温湿度加速Peck模型、温度循环加速W-E模型、振动/电应力加速逆幂模型、温湿度-振动综合应力加速模型。



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